激光粗糙度儀適用于生產(chǎn)現(xiàn)場，科研實(shí)驗(yàn)室和工廠計(jì)量室。可測量多種機(jī)加工零件的表面粗糙度，根據(jù)選定的測量條件計(jì)算相應(yīng)的參數(shù)，在液晶顯示器上清晰地顯示出來。采用DSP芯片進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)處理，速度快，功耗低，內(nèi)置鋰離子充電電池及控制電路，容量高、無記憶效應(yīng)，充電時(shí)間短。
共聚焦顯微鏡使用技術(shù)開發(fā)的光學(xué)輪廓儀，其共聚焦部分的主要優(yōu)點(diǎn)是有著*發(fā)光效率的照明硬件和高對比度算法。這些特點(diǎn)使系統(tǒng)成為測量有著陡峭斜面、粗糙的、反光表面和含有異種材料樣品的理想設(shè)備。高品質(zhì)干涉光學(xué)系統(tǒng)和集成壓電掃描器是干涉輪廓儀部分的關(guān)鍵。這項(xiàng)技術(shù)對于測量非常光滑至適度粗糙的表面比較理想。這些技術(shù)的組合為輪廓儀提供了無限寬廣的應(yīng)用領(lǐng)域。
光譜反射法是薄膜測量的方法之一，因?yàn)樗?、無損、迅速且無需制備樣品。測量時(shí)，白光照射到樣品表面，并將在膜層中的不同界面反射，并發(fā)生干涉和疊加效應(yīng)。結(jié)果，反射光強(qiáng)度將顯示出波長變化，這種變化取決于薄膜結(jié)構(gòu)不同層面的厚度和折射率。軟件將測得的真實(shí)光譜同模擬光譜進(jìn)行比較擬合，并不斷優(yōu)化厚度值，直到實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)匹配。
光學(xué)測量法檢測粗糙度，單件產(chǎn)品測量時(shí)間僅零點(diǎn)幾秒，可以實(shí)現(xiàn)在線全檢。測量精度及重復(fù)性是普通進(jìn)口產(chǎn)品的3倍以上。密封式設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)堅(jiān)固可靠。激光粗糙度儀適宜于惡劣現(xiàn)場環(huán)境中常年使用。無觸針等易損件更換。一次投資，使用。對于一定的工藝過程，儀器僅標(biāo)定一次。無重復(fù)標(biāo)定費(fèi)用。手持式小巧結(jié)構(gòu)，非接觸式測量，不會(huì)導(dǎo)致被測件變形及損壞。同時(shí)，測量結(jié)果不受被測件震動(dòng)影響。由于取消傳統(tǒng)探針觸頭接觸式結(jié)構(gòu),對于表面波紋度較低試件，測量結(jié)果同工藝性能具有好的相關(guān)性。
